聯系我們有關(guan)XRF的(de)常(chang)見術(shu)語和問答(da)（3）
和峰
和峰（Sum Peak）是(shi)由(you)于2個光子正好同時撞(zhuang)擊探測器而(er)產(chan)生(sheng)的偽峰。這2個光子被(bei)探測器捕(bu)獲，被(bei)識別為1個光子，如果2個光子能量相同，則和峰是(shi)正常能量的(de)二(er)倍。在具有高元素濃(nong)度的(de)XRF光譜中(zhong)更突出，可以(yi)通過降(jiang)低計數(shu)率來降(jiang)低和(he)峰(feng)。
逃逸峰
由于(yu)探測器中物質(zhi)（如Si）吸收光子的(de)一些能量而引起的(de)偽峰（E觀察到(dao)＝E入(ru)射 - E Si，E Si＝1.74 keV）。當(dang)進入探測器(qi)的X 射線光子能量(liang)(liang)高于探測器物質的吸收(shou)限能量(liang)(liang)時，因(yin)該物質對(dui)本身(shen)被激發的特征X 射線呈現出(chu)高度的(de)透明，而導致這部分能量的(de)逃逸，結(jie)果在能譜上除了入射X 射線的主峰外，還會在(zai)較低能量位(wei)置出現一個(ge)逃逸峰（Escape peak），在具有高濃度元素和低Z元(yuan)素的XRF光譜(pu)中更突出。
逃逸峰高度約為主(zhu)峰的1/ 1000 到(dao)2/100，通常僅(jin)在(zai)強度取對數坐標的(de)譜(pu)圖中明顯可見,而且原子序數(shu)大(da)于30 的元素已(yi)基本不(bu)存在逃
光譜干擾
光譜干擾是在(zai)光譜中與(yu)待(dai)分(fen)析的元素的譜峰（感興趣區域(yu)）重疊的峰。如： K線和L線重疊：S的K線(xian)和Mo的L線(xian)，Cl的K和Rh的L線，As的K和Pb的L線等(deng)；相鄰(lin)元素重(zhong)疊：Al和Si，S和(he)Cl，K和Ca等(deng)。探測器的分辨率決(jue)定重(zhong)疊(die)程(cheng)度。
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能量分辨率
能量分辨率（Energy resolution）是指(zhi)，針對(dui)兩(liang)種不(bu)同能(neng)(neng)量(liang)(liang)的入射粒子(zi)，探測器所(suo)能(neng)(neng)夠測定最(zui)小(xiao)的能(neng)(neng)量(liang)(liang)間隔。能(neng)(neng)量(liang)(liang)分(fen)辨率定義為FWHM(全(quan)能峰高度一半處的峰寬度)與(yu)峰(feng)位能(neng)量的比值，或(huo)直(zhi)接用(yong)FWHM表(biao)示，但需指明(ming)峰為能量(liang)。它表(biao)征了探測器對(dui)不同(tong)能量(liang)射線(xian)的辨能力，因此是譜(pu)儀探測器最(zui)重(zhong)要的性能指標。
能(neng)量分(fen)(fen)辨(bian)率與(yu)產生一(yi)個電子(zi)一(yi)空(kong)穴對所需的(de)(de)(de)(de)能(neng)量、入射粒(li)子(zi)的(de)(de)(de)(de)能(neng)量等(deng)有(you)關，還受探(tan)測器材(cai)料的(de)(de)(de)(de)反向漏電流、結(jie)電容、溫(wen)度、電子(zi)學噪(zao)聲和(he)反向偏(pian)壓(ya)等(deng)因素的(de)(de)(de)(de)影響(xiang)。實際測得的(de)(de)(de)(de)能(neng)量分(fen)(fen)辨(bian)率與(yu)探(tan)測器輸出信(xin)號的(de)(de)(de)(de)產生、傳遞、轉換、放大與(yu)收集(ji)等(deng)過程有(you)關。若(ruo)有(you)用信(xin)號越強(qiang)，干擾因素越弱，則能(neng)量分(fen)(fen)辨(bian)率越好。
基體效應
基體(ti)（Matrix）是樣品中不包(bao)括分析元素本身的其他(ta)組成。
基體效應（Matrix Effects）就是(shi)樣品的基本化學組成和(he)物理化學狀態差(cha)異對分析線強度(du)的綜(zong)合影響。
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