聯系我們有(you)關XRF的常見術(shu)語和問(wen)答（3）
和峰
和(he)峰（Sum Peak）是由于2個光子正好(hao)同時撞擊探測器而(er)產生的偽峰(feng)。這2個光(guang)子被探測器捕(bu)獲(huo)，被識(shi)別為1個光(guang)子，如果(guo)2個光子能(neng)量(liang)相同，則和峰是正常能(neng)量(liang)的二倍。在具有(you)高元素濃度的XRF光譜(pu)中(zhong)更突出，可以通過(guo)降低計數(shu)率來降低和峰。
逃逸峰
由于探測器中物質（如Si）吸收(shou)光子的(de)一些能量(liang)而(er)引起的(de)偽峰(feng)（E觀察到(dao)＝E入射 - E Si，E Si＝1.74 keV）。當進入探測(ce)器的(de)X 射線光(guang)子能(neng)(neng)量高(gao)于(yu)探測器物質的吸收限能(neng)(neng)量時，因該物質對本身被激(ji)發的特(te)征(zheng)X 射(she)線呈現出(chu)高度的(de)透明(ming)，而導致這部(bu)分能量的(de)逃逸，結果(guo)在能譜(pu)上除(chu)了入射(she)X 射線的主峰外，還會(hui)在(zai)較低能量位置出現一個逃(tao)逸峰（Escape peak），在具(ju)有高濃度(du)元素和低(di)Z元素的XRF光譜中更突(tu)出。
逃逸峰高度約為(wei)主(zhu)峰的1/ 1000 到2/100，通常僅在強度取對數坐標(biao)的譜圖中(zhong)明(ming)顯(xian)可見(jian),而且原子(zi)序數大于(yu)30 的元素(su)已基本不(bu)存在逃(tao)
光譜干擾
光譜干擾是在光譜中與待分析的(de)元素(su)的(de)譜峰（感興趣(qu)區域）重疊的(de)峰。如(ru)： K線和L線重疊(die)：S的(de)K線和Mo的L線，Cl的K和Rh的L線(xian)，As的K和Pb的L線等；相鄰元素重疊(die)：Al和Si，S和Cl，K和Ca等。探測(ce)器的分辨率決定(ding)重疊程度。
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能量分辨率
能量分辨率（Energy resolution）是(shi)指(zhi)，針對兩種(zhong)不同能量的入(ru)射(she)粒子，探測器所能夠(gou)測定(ding)最(zui)小(xiao)的能量間隔。能量分辨率定(ding)義(yi)為FWHM(全(quan)能峰高(gao)度一(yi)半處的峰寬度)與峰(feng)位能量的(de)比值，或直接用(yong)FWHM表(biao)示，但需指明(ming)峰為能(neng)量(liang)。它表(biao)征(zheng)了探(tan)測器對不同能(neng)量(liang)射線的辨能(neng)力，因(yin)此(ci)是譜儀探(tan)測器最重要(yao)的性能(neng)指標。
能量分辨率與(yu)產生一個電子(zi)一空穴對所(suo)需的(de)能量、入射粒子(zi)的(de)能量等(deng)有(you)(you)關，還受探測器材料的(de)反向(xiang)漏電流、結電容(rong)、溫度、電子(zi)學噪聲和反向(xiang)偏壓等(deng)因(yin)素(su)的(de)影響。實際測得的(de)能量分辨率與(yu)探測器輸出信號(hao)的(de)產生、傳遞、轉換(huan)、放大與(yu)收集(ji)等(deng)過程有(you)(you)關。若(ruo)有(you)(you)用信號(hao)越(yue)(yue)強(qiang)，干擾因(yin)素(su)越(yue)(yue)弱，則能量分辨率越(yue)(yue)好(hao)。
基體效應
基體（Matrix）是樣品中不(bu)包(bao)括分析元素本身的其他(ta)組成。
基(ji)體效應（Matrix Effects）就是樣品的基本(ben)化學組成(cheng)和物理(li)化學狀(zhuang)態差異對分析線(xian)強度(du)的綜(zong)合影響。
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