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DM2500

MMEDXRF輕中元素光(guang)譜儀

(通用型)


多單色(se)激發實現高峰背比,使能測元素(BZn),

其準確度(du)媲(pi)美大型波長色散光譜儀


通用(yong)型滿足各(ge)行各(ge)業任何種(zhong)類

物料元素濃度的測量要(yao)求


采用

多單色激發能(neng)量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術(shu)

對數螺線型雙曲面(mian)彎晶(LSDCC)實現衍射并作為二次靶(ba)

高(gao)(gao)計(ji)數率、高(gao)(gao)分辨率、高(gao)(gao)透過率(AP3.3窗(chuang))SDD探測器

電(dian)壓(ya)電流靶材完(wan)美組合的微焦斑薄鈹窗(chuang)X射線管源


符合標準(zhun)

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085


概(gai)述(shu)

DM2500MMEDXRF輕中元(yuan)素光(guang)譜(pu)儀,詳稱DM2500多單色激發能量色散(san)X射線(xian)熒(ying)光輕中元素(BZn)光譜儀,是本公司集(ji)數十年X熒光光譜儀的研究(jiu)經(jing)驗,在公(gong)司(si)原有DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析(xi)儀、X熒光光譜儀等的(de)基礎上研制推出的(de)一(yi)種具創新(xin)性的(de)XRF光(guang)譜儀。它采(cai)用多單色激發(fa)能量色散X射線熒光(guang)(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技(ji)術。主要(yao)部件,如:單(dan)色晶(jing)體采用(yong)本公(gong)司研(yan)制的具有本公(gong)司專利的對(dui)數螺線旋(xuan)轉點(dian)對(dui)點(dian)聚焦(jiao)鍺單(dan)色晶(jing)體,X射(she)線(xian)管采用(yong)KeyWay公司生產的50W微焦(jiao)點(dian)大輻射角(jiao)薄(bo)鈹窗X射線管,并對(dui)其高壓、電流、靶材(cai)進(jin)行(xing)最佳組(zu)合, X射線探測器采用德國Ketek公司生產(chan)的具(ju)有高(gao)(gao)計數率(lv)、高(gao)(gao)能量(liang)分辨率(lv)、高(gao)(gao)透過率(lv)的常溫用SDD半導(dao)體X射線(xian)探(tan)測(ce)器。并且采(cai)用(yong)具(ju)有(you)本(ben)公司(si)自主知識(shi)產權(quan)的輕元素專用(yong)的光學系統及多(duo)種方法(fa)組合使用(yong)的多(duo)個(ge)單色激發系統等獨(du)有(you)的技術,極大地提(ti)高(gao)了儀器的靈敏度(du)和峰背比。它還采用X射(she)線向(xiang)下照射(she)系統(tong),樣(yang)品自旋裝(zhuang)置,特別適合粉末(mo)壓(ya)片樣(yang)品,且可根據應用選擇真(zhen)空系統(tong)或自充氣系統(tong)。由(you)此使本(ben)光(guang)譜儀達(da)到國際(ji)領先水平。在與大型(xing)波長色散(san)光(guang)譜儀的比較試驗中,其大部(bu)分性(xing)能指標接近(jin)或達(da)到大型(xing)波長色散(san)光(guang)譜儀的性(xing)能指標,某些甚(shen)至超過。其(qi)性能指標相比進(jin)口同類產品更好,而(er)價格(ge)(ge)僅為進(jin)口同類產品的(de)一半,具有無可(ke)比擬的(de)價格(ge)(ge)性能比。另外國內(nei)企業售后服務的(de)方(fang)便程度是國外企業所無法(fa)相比的(de)。且本光譜儀良好的(de)屏蔽防(fang)護設(she)計保證無任(ren)何射線泄漏,滿足輻射(she)豁免(mian)要求。

適(shi)用范圍

DM2500MEDXRF輕(qing)中元素光譜儀可用(yong)(yong)于各(ge)(ge)行各(ge)(ge)業(ye)所(suo)有物(wu)料的含(han)量測(ce)(ce)量。無論(lun)環保、冶金、化工(gong)、地質、礦山、電(dian)子電(dian)氣、食(shi)品等(deng)各(ge)(ge)行業(ye),還是壓片(pian)、熔片(pian)、液體等(deng)各(ge)(ge)類型樣品,只(zhi)要(yao)用(yong)(yong)戶所(suo)要(yao)求的測(ce)(ce)量元素在B(5)Zn(30)的范圍內(nei),DM2500都能進行(xing)準確測量。其符合幾乎(hu)所有元素測定(ding)XRF光譜法標(biao)準的(de)相關(guan)要求,如:國家或行(xing)業標(biao)準GB/T 176—2017《水泥化學分(fen)析方法》、GB/T3286.11-2022《石(shi)(shi)灰(hui)石(shi)(shi)及白云(yun)石(shi)(shi)化學(xue)分析方法 第(di)11部(bu)分:氧(yang)化(hua)鈣、氧(yang)化(hua)鎂、二(er)氧(yang)化(hua)硅(gui)、氧(yang)化(hua)鋁及(ji)氧(yang)化(hua)鐵含量(liang)的測定 波長色散X射線熒光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、GB/T4333.5-2016 硅鐵(tie) 硅、錳(meng)、鋁、鈣(gai)、鉻(ge)和鐵(tie)含量的(de)測定(ding) 波長色散X-射線(xian)熒(ying)光光譜法(熔鑄玻璃片法)》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素(su)材料檢測方法 第16部分:元素含量的測(ce)定(ding) 波長色散X射線熒(ying)光(guang)光(guang)譜分析(xi)方法(fa)》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻(ge)和(he)銅含量的測(ce)定(ding).波長色散(san)X射線熒光光譜法(常規法(fa))》等。其(qi)還符合行業標(biao)準JC/T1085—2008《水泥用(yong)X射線熒光分析儀(yi)》、JB/T11145—2011X射線熒光(guang)光(guang)譜儀》。

如貴用戶對某(mou)些元素(su)的(de)測量有特殊的(de)要求,則本公司可根據用戶的(de)要求更改單色激發系統(tong)(tong)和或軟件系統(tong)(tong)以(yi)滿足用戶對測量元素(su)的(de)要求。


特點

快速同時所需測(ce)量(liang)元(yuan)素(su)同時快速分(fen)析,一般幾(ji)十秒(miao)給(gei)出含量(liang)結果。

高(gao)準確度采(cai)用先進MMEDXRF技(ji)術,LSDCC核心技術(shu),根據所(suo)要測量(liang)(liang)的(de)(de)(de)元素(su)來選擇單色光的(de)(de)(de)能量(liang)(liang)及產(chan)生(sheng)單色光的(de)(de)(de)方法(fa),極大地提(ti)高(gao)了儀器的(de)(de)(de)靈(ling)敏度和峰背比(bi),具(ju)出色的(de)(de)(de)重復性(xing)和再現性(xing),極高(gao)的(de)(de)(de)準確度。

向下照射(she)采用X射線向下照(zhao)射系統(tong),杜絕了樣(yang)品(pin)粉(fen)(fen)末(mo)污染損壞探測系統(tong)的(de)可能,特別(bie)適合粉(fen)(fen)末(mo)壓片(pian)樣(yang)品(pin)。

樣(yang)品自旋(xuan)具(ju)有樣(yang)品自旋裝置,消(xiao)除了(le)壓片(pian)樣(yang)品中由于特硬物質(zhi)的存在而不(bu)易粉(fen)碎(sui)造成的樣(yang)品不(bu)均勻性。

長期穩定(ding)采用可變增益數字(zi)多道,有PHA自動調整、漂移校正、偏(pian)差修(xiu)正等功能具極好的長期穩(wen)定(ding)性。

環(huan)保(bao)節能射線防(fang)護達豁(huo)免(mian)要求。分析時不(bu)(bu)接觸(chu)不(bu)(bu)破壞樣品,無污染,無需(xu)化(hua)學(xue)試劑,也不(bu)(bu)需(xu)要燃(ran)燒。

使用方便(bian)觸摸屏操(cao)作。樣品粉碎壓片(pian)放入儀器(qi)后只需(xu)按[啟動]鍵(jian)即可,真(zhen)正實現一鍵(jian)操(cao)作(zuo)。

高可靠性一體化設計,集成化程度(du)高,環境適(shi)應能(neng)力(li)強,抗干擾能(neng)力(li)強,可靠(kao)性(xing)高。

高性價比無需鋼瓶氣體,運(yun)行維護成(cheng)本極低。價(jia)格為國外同(tong)類產品的一半。是(shi)真正的高性價(jia)比產品。

尖端技術


同標準型(xing)

校(xiao)準(zhun)

X熒光分(fen)析方(fang)法是(shi)一種參考(kao)方(fang)法,校準是(shi)為得到定(ding)量的(de)結果(guo)所必(bi)須(xu)的(de)。XRF光譜儀通過比較(jiao)已知(zhi)標(biao)樣與未知(zhi)樣的光譜強度來得到定量分(fen)析的結果。其某元素的含量計算式(即校準曲線(xian))為:

CDEICFIC 2                                                     1

式中,IC =f(I0)I0為(wei)原始強度(即原始道(dao)計(ji)數(shu)率),IC為處(chu)理(li)后(hou)強度(或修正后(hou)強度),DEF是由校(xiao)準(zhun)確定的系數。校(xiao)準(zhun)的方法(fa)是:用(yong)光譜(pu)儀測量一系列校(xiao)準(zhun)標準(zhun)樣品或有證標準(zhun)樣品的每種(zhong)元素(su)強度,利用(yong)回(hui)歸分(fen)析,例如最小二(er)乘法(fa),確定(1)的系(xi)數。

用已知含量的某單位鋁用碳素校(xiao)準樣(yang)品對光譜儀進行(xing)校(xiao)準,得到的數據如表1

表(biao)1.某單位鋁用碳素校準(zhun)樣(yang)品校準(zhun)結果數據(ju)(ppm

元(yuan)素(su)

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

系數D

-489.8

-66.93

-0.34

-276.9

-372.7

-158.1

-140.2

系數E

0.9447

6.458

1.58

1.074

1.251

0.2932

0.854

系數F

0

0

0

0

0

0

0

相關系(xi)數γ

0.9612

0.9971

0.9956

0.9833

0.9977

0.9561

0.9742

這些校準(zhun)曲線的相關系(xi)數γ 均大于0.95,表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。

重復性

對某(mou)單(dan)位鋁用碳素樣(yang)品中(zhong)的某(mou)一樣(yang)品,進(jin)行(xing)11次(ci)測量,得到各元素(su)的重復性數(shu)據如表2

2.某(mou)單位鋁用碳素樣品重復性測量數據分析(ppm

元素

Na

Si

S(%

Ca

V

Fe

Ni

理論值

111.5

223

1.56

311.8

410

242

242

平均示值

105.80

225.36

1.55

312.52

412.91

232.61

235.02

最大示(shi)值

108.09

228.23

1.56

315.88

418.04

234.13

237.35

最小示(shi)值(zhi)

102.4

223.19

1.54

310.3

410.69

231.48

233.87

極(ji)差

5.69

5.04

0.02

5.58

7.35

2.65

3.48

示值標準(zhun)偏差

2.11

2.13

0.0071

2.21

3.01

0.96

1.41

3倍(bei)示值(zhi)標(biao)準偏(pian)差(儀器重(zhong)復性限)

6.33

6.39

0.021

6.63

9.03

2.88

4.23

GB/T176重復性限

15

23

0.033

15

15

9

8

YS/T63.16允許差(cha)

35

45

0.10

30

25

25

20

DM2500YS/T63.16的符合性

遠優

遠優(you)

遠優

遠優

注:粉末(mo)壓片樣品。在X射線(xian)源為半功率(lv)(25W),測量時間(jian)為300s的條件(jian)下,連續進行11次(ci)測(ce)量(liang)所得的結果。

從上(shang)表可知:光(guang)譜儀的重復性限均小于行業標準YS/T63.16—2019《鋁用碳素(su)材料檢測方(fang)法 第16部(bu)分:元(yuan)素(su)含量的測定 波(bo)長色(se)散X射線熒(ying)光光譜分析方法》所要(yao)求的重復性限。所以(yi),DM2500光(guang)譜儀可實(shi)現優異的重復性(xing),完全滿足YS/T63.16—2019有關重復性的(de)要求


主要(yao)技術指標(biao)


測量(liang)元(yuan)素

可選擇B(5)Zn(30)中的任意元素

X射線管

電壓:≤50keV,電(dian)流:≤2mA,功率≤50W,靶(ba)材:AgMoRhPdCr等可選(xuan))

探測器(qi)

SDD,有效(xiao)面積:20mm2,分辨(bian)率:≥123eV,計數(shu)率(lv):≤2Mcps,入射(she)窗:AP3.3

檢測限(300s

C2.0%N1.0%O0.5%F0.15%

Na30ppmMg20ppmAl10ppmSi/P/S/Cl2.0ppmK-Zn3.0ppm

測量(liang)范圍

檢測(ce)限的3倍~99.99%

重復(fu)性限

滿足幾乎所有(you)元素測定XRF光譜法標(biao)準(zhun)的相關要求,如(ru):GB/T 176—2017GB/T3286.11-2022GB/T4333.5-2016YS/T63.16—2019GB/T24198-2009

系統測量時間

1999s,推薦值為300s

測量氛圍

自(zi)充氣系(xi)統或氦氣

使(shi)用條(tiao)件(jian)

環境溫度:540℃,相對濕度:≤85%(30),供電電源:220V±20V50Hz≤200W

尺寸(cun)及(ji)重量

540mm×500mm×450mm35kg

注:檢出限與樣品基體有關。